一种基于图像识别的二维晶体结构检测与面积分析方法

本发明公开了一种基于图像识别的二维晶体结构检测与面积分析方法，包括：对生长有二维材料的衬底样品进行图像采集，基于YOLOv8深度学习目标检测模型对待检测图像中的晶体目标进行自动检测，获取晶体几何特征信息；根据几何特征信息，计算晶体面积；根据晶体几何特征信息和晶体面积，生成标准化的结构化识别数据；对标准化的结构化识别数据进行二维空间插值拟合，获得面积分布拟合与可视化分析结果。本发明能够在无需人工干预的情况下快速完成对晶体目标的自动识别与定位，显著提高了识别速度，避免了传统人工判别可能带来的主观偏差与误判风险。