基于相机校准与畸变模型的光学测量方法、系统及介质

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基于相机校准与畸变模型的光学测量方法、系统及介质
申请号:CN202510711035
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120820062A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种基于相机校准与畸变模型的光学测量方法、系统及介质,该方法包括:基于三维校准工件拍摄多张不同角度与位置的校准图像与畸变测量图像;基于标定算法对校准图像与畸变测量图像进行分析,得到相机参数与畸变模型;基于已校准的相机获取待测量物体图像,提取待测量物体图像特征;基于畸变模型对待测量物体图像特征进行畸变校正,得到校正后的待测量物体图像特征;将校正后的待测量物体图像特征进行三维重建,得到测量图像,基于测量图像分析待测量物体的参数信息,得到测量结果;通过对相机进行参数校准与畸变校正,从而降低畸变误差,提高测量精度。
技术关键词
畸变模型 光学测量方法 相机校准 非线性优化算法 物体 标定算法 校正 畸变参数 工件 坐标 纹理特征 图像分析 光照 网格模型 三角测量方法 滤波算法
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