测试用例覆盖度统计方法、电子设备及计算机产品

本发明提供一种测试用例覆盖度统计方法、电子设备及计算机产品，所述方法包括：调取预先构建的知识库，其中，知识库中包括不同的标准测试用例与不同的统计因素总点数的映射关系；获取待统计测试用例，并在知识库中筛选得到与待统计测试用例相匹配的目标标准测试用例，其中，目标标准测试用例为与待统计测试用例的相似度大于相似度阈值的标准测试用例；基于映射关系，确定与目标标准测试用例对应的目标统计因素总点数；确定待统计测试用例的待统计因素点数，并基于目标统计因素总点数，确定待统计测试用例的覆盖度。实现高效、准确进行测试用例覆盖度统计处理，进而有效避免需求点的遗漏，为软件质量保障提供了更为坚实的技术支撑。