用于芯片测试的仿真数据生成方法及装置、电子设备

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用于芯片测试的仿真数据生成方法及装置、电子设备
申请号:CN202510712383
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120469876A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种用于芯片测试的仿真数据生成方法及装置、电子设备、计算机存储介质和芯片模组,包括:获取源数据模板,包含固定代码和多个配置填充位;根据配置填充位的参数类型,对配置填充位进行随机数配置,得到测试参数组;将所有测试参数组填充至对应的配置填充位中,以得到源数据包;选择源数据包中配置填充位填充的测试参数,以生成仿真源数据。通过对源数据模板中每一配置填充位自动随机配置参数值,使得每一配置填充位可以获得多个不同的测试参数,从而在按照预设配置条件选择后,能够自动生成多个仿真源数据,不仅实现了在单次仿真验证中对仿真数据配置不同的参数,还有效拓展了仿真数据的数量,解决了现有IP核仿真验证效率低下的问题。
技术关键词
仿真数据 生成方法 算法平台 参数 生成装置 协议 脚本 计算机存储介质 芯片模组 模板 数据平台 封装单元 电子设备 模块 存储器 IP核 处理器
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