芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备

本申请实施例提供了一种芯片可靠性试验方法、装置、系统及电子设备，涉及芯片可靠性测试技术领域。其中方法包括：根据待测芯片的芯片类型和试验项目特点确定试验项目模型，所述试验项目模型包括针对所述待测芯片的试验项目，试验项目的试验成本以及试验项目的能够决定整体试验结果的项目结果的发生概率；根据所述试验项目模型建立试验项目数据表；基于熵权法对所述试验项目数据表中的试验项目进行量化评价，得到试验项目对应的综合指标；基于贪婪算法和所述综合指标选择不同时间阶段的试验项目，生成试验方案。本申请提供的实施方式提升了试验方案设计的科学性。