一种基于优化的点对特征的点云目标识别与定位算法、电子设备及可读存储介质

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一种基于优化的点对特征的点云目标识别与定位算法、电子设备及可读存储介质
申请号:CN202510714872
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120823359A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本发明属于三维机器视觉、工业零部件检测与测量相关技术领域,具体公开了一种基于优化的点对特征的点云目标识别与定位算法、电子设备及可读存储介质,其方法包括S1、预处理过程;采用深度相机实时采集目标工件的点云数据,并对点云数据进行预处理操作;S2、通过投影获取点云的边缘特征点;通过投影的方法将点云数据转化为深度图,获取点云的边缘特征点;S3、模板点云与场景点云的粗略配准;利用模板点云与场景点云的边缘特征点的点对特征,构建哈希表,采用边缘特征点进行粗略配准;S4、精确配准并获取目标工件的点云位姿;精确配准并得到模板点云到场景点云的变换关系,获取目标工件的点云位姿。
技术关键词
定位算法 深度图 特征点 点对特征 模板 分辨率 哈希表 深度相机 粗略 三维机器视觉 点云数据采集 邻域 两点 工件特征 电子设备 处理器 图像处理方法
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