一种基于颗粒密度的颗粒分布检测方法及装置

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一种基于颗粒密度的颗粒分布检测方法及装置
申请号:CN202510721987
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120635005A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种基于颗粒密度的颗粒分布检测方法,包括:获取包含多个宏观岩石颗粒的分布的第一图像;通过预训练的深度学习图像分割模型预估所述第一图像的颗粒密度;根据切割步长将所述第一图像切割为多个第二图像,所述切割步长由重叠值与所述第二图像的尺寸确定;对第二图像进行目标检测,获取所述宏观岩石颗粒的边界框和掩码信息;通过去重算法去除跨第二图像的重复检测的结果,生成最终的颗粒分布数据。本申请还提供了相应的基于颗粒密度的颗粒分布检测装置。本申请可提供一种能够根据颗粒密度自适应调整图像切割参数,同时兼顾检测精度与计算效率的颗粒分布检测方法。
技术关键词
分布检测方法 深度学习图像 去重算法 密度 分布检测装置 坐标系 图像处理模块 指令 送料设备 计算机程序产品 数据采集模块 工业相机 图像分割 传送带 处理器 尺寸
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