一种芯片缺陷视觉检测方法、系统及储存介质

本发明公开了一种芯片缺陷视觉检测方法、系统及储存介质，其中方法包括：获取芯片的原始图像并预处理，得到预处理后的图像；将预处理后的图像划分为多个等大的图像子块，并计算图像子块的特征向量，得到若干子块的特征向量；将若干子块的特征向量输入缺陷检测模型，得到子块类别；其中，所述缺陷检测模型基于深度学习算法构建，所述子块类别包括正常类别与缺陷类别。本发明涉及视觉检测技术领域，解决了传统检测方法容易产生小缺陷漏检的技术问题。