兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置

本申请提出了一种兼容芯片进行静电放电测试和射频测试的测试装置，所述测试装置包括：第一测试板，包括：芯片放置区域，用于放置待测芯片；多个第一排针孔，用于与所述待测芯片的引脚电连接，所述引脚包括射频输入引脚和电压输入引脚；第二测试板，包括：外围电路区域，用于放置所述待测芯片的外围电路；多个第二排针孔，连接到多个所述第一排针孔，多个所述第二排针孔中包括电压排针孔和射频排针孔，所述电压排针孔用于连接所述外围电路，并通过所述第一排针孔连接所述电压输入引脚；所述射频排针孔用于连接射频测试仪，并通过所述第一排针孔连接所述射频输入引脚。