芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、构建目标测试用例重构结构{C0,（C1,B1）,(C2,B2),...,(Cn,Bn),...,(CN,BN)}；步骤S2、解析所述目标测试用例重构结构，获取C0，然后并行获取每一Cn和Bn；步骤S3、并行解析每一Bn，获取每一Fin；步骤S4、基于每一Fin、Fin对应的Cn、C0生成待测芯片设计的所有芯片测试用例。本发明提高了芯片测试用例的构建效率和准确性。