芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机

本发明提供一种芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机。芯片旋转测试夹具包括旋转台、多个托盘和托料架。多个托盘沿旋转台的周向排布于旋转台上，托盘的转动轨迹上设置有上料位和下料位。各托盘包括两个限位件和两个顶紧件，两个顶紧件分别与两个限位件水平相对设置，且水平活动设置。各顶紧件连接有第一弹性件，第一弹性件用于提供弹力使得顶紧件朝向对应的限位件移动。上料位和下料位的下方均设置有托料架，托料架包括推动机构和升降机构，升降机构连接推动机构，用于驱动推动机构升降，以使推动机构与两个顶紧件相连或分离；推动机构能够推动两个顶紧件远离对应的限位件移动。芯片测试装置和芯片测试机包括上述的芯片旋转测试夹具。