一种芯片测试装置和方法

本申请公开了一种芯片测试装置和方法，所述装置包括：接口插座模块、控制单元、按键模块、显示器；所述接口插座包括多种封装类型芯片夹具，每种芯片夹具包括夹具主体和多个引脚接口，所述夹具主体用于固定待测试芯片、所述多个引脚接口用于当待测试芯片固定于夹具主体时分别与待测试芯片的引脚连接；所述控制单元与每个芯片夹具的多个引脚接口连接；所述按键模块与所述控制单元通信连接，所述按键模块包括有下发给所述控制单元不同测试控制指令的多个按键；所述控制单元的输出端和显示器的输入端通信连接。本申请装置体积小，便于操作，可以快速进行芯片测试，且能够定位具体引脚位置。