摘要
本发明涉及计算机集群运维领域,具体为一种计算机集群的运维方法,包括以下步骤:S1、获取每个芯片的第一工作信息;S2、根据第一工作信息计算每个芯片的综合老化程度;S3、根据综合老化程度计算每个芯片的故障发生率;本发明相较于传统的对多种老化机制分别进行计算然后简单相加的计算方法来说,在计算芯片的老化程度时,考虑到了多种老化机制之间的相互影响,所以引入不同机制之间的耦合项,所以在计算芯片的老化程度时,精度更高,有利于后期根据其计算芯片发生故障的概率。
技术关键词
偏置温度不稳定性
故障发生率
参数
芯片
计算机集群运维
老化机制
基准
指数
电压
电流
电场
计算方法
栅极
衬底
氧化层
结温
因子
系统为您推荐了相关专利信息
上覆地层压力
GRU神经网络
地球物理测井
地层孔隙压力
速度
广义内模控制
快速反射镜
音圈电机
前置补偿器
鲁棒控制器
医学图像融合方法
噪声预测
疾病预测方法
融合特征
噪声数据
在线监测系统
油位在线监测装置
主控芯片
智能报警系统
机数据处理