一种芯片布图规划的规则检查方法、装置、设备及介质

本申请公开了一种芯片布图规划的规则检查方法、装置、设备及介质，涉及集成电路技术领域。该方法包括：解析目标制造工艺的设计规则约束文件，以提取规则参数集合；根据所述规则参数集合生成用于对已经完成布图规划的芯片进行规则检查的不同的检查规则，并根据所述检查规则构建相应的检查脚本；利用所述检查脚本对所述芯片进行规则检查，以输出不满足检查规则的问题项，并对所述问题项进行修复，以得到符合所述设计规则约束文件的目标芯片。通过本申请的技术方案，在完成布图规划后，对其编写相应的检查脚本进行检查并修复，提高效率，减小后续迭代的时间周期。