电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质

本申请公开了一种电子部件缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，方法包括：获取自动检测设备检测的第一缺陷数据；利用AI模型对第一缺陷数据检测，利用一次过滤标准对AI模型得到的第二缺陷数据进行过滤，得到一次过滤不可放行数据；获取人工利用二次过滤标准对一次过滤不可放行数据进行过滤得到的双不放行数据和争议放行数据；根据双不放行数据及争议放行数据对一次过滤标准进行优化，得到新的一次过滤标准，返回执行获取第一缺陷数据的步骤。本申请公开的技术方案，先利用AI模型进行检测和利用上一次迭代得到的一次过滤标准进行过滤，再由人工过滤，并通过持续的迭代使一次过滤标准越来越接近检板标准，以降低缺陷误判率和人工检测量。