基于测针弯曲变形调控的五轴摆扫测量中断预测方法

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基于测针弯曲变形调控的五轴摆扫测量中断预测方法
申请号:CN202510741965
申请日期:2025-06-05
公开号:CN120631060A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于测针弯曲变形调控的五轴摆扫测量中断预测方法,包括基于扫描测针的实际运动轨迹和理论运动轨迹的偏差,确定扫描测针的实际受力方向与理论运动轨迹法矢方向上施加的调控力,然后,基于调控力施加过程中,调控力对测杆的弯曲变形量变化影响,建立扫描测针的弯曲变形调控模型,得到的施加的调控力分别与扫描测针理论运动轨迹对应的理论合力和实际受力的差值,对调控力的施加过程进行分类,最后,依照工件给扫描测针的实际受力范围,得到测杆的无中断角,实现对五轴摆扫测量中断进行的判断和预测。本发明提供的对五轴摆扫测量中断风险的前瞻性预测,方法简单,适用于多种五轴摆扫测量场景,具有广泛的应用前景和推广价值。
技术关键词
弯曲变形量 偏角 测杆 受力 调控模型 理论 坐标系 测量机 轨迹 运动 工件 关系 枢轴 参数 偏差 对象 机架 力矩 校准
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