一种Ga-68活度直接测量方法

本申请公开了一种Ga‑68活度直接测量方法，包括：S1：Ga‑68样品的制备，包括测量样品和空白样品；S2：建立Ga‑68样品探测效率的数学模型，包括，单粒子的双管符合D的探测效率εD以及单粒子的三管符合T的探测效率εT；S3：基于测量的总计数与所述Ga‑68样品探测效率的数学模型的关系建立测量方程，包括：样品在双管符合D下的总探测效率εtotal,D和样品在三管符合T下的总探测效率εtotal,T对应的测量方程；S4：基于测量的样品计数和放射性核素探测效率计算Ga‑68活度，通过本申请方法满足了制样简便、核素可回收、不确定度较低的要求。