一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法

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一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法
申请号:CN202510748331
申请日期:2025-06-06
公开号:CN120259314B
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,更具体地,本发明涉及一种基于图像处理的碳化硅晶粒度检测方法,该方法包括,采集碳化硅灰度图像,对碳化硅灰度图像进行边缘检测,得到晶粒区域,获取每个晶粒区域的边缘混乱程度,根据每个晶粒区域的灰度分布复杂程度以及纹理分布杂乱程度,获取每个晶粒区域的内部一致性,根据每个晶粒区域的内部一致性以及边缘混乱程度,获取每个晶粒区域的调整因子,根据所述调整因子对每个晶粒区域的等效圆直径调整,获取每个晶粒区域的最终等效圆直径,根据每个晶粒区域的最终等效圆直径,获取每个晶粒区域的晶粒度,本发明提高了碳化硅的晶粒度获取的准确性。
技术关键词
灰度共生矩阵 度检测方法 碳化硅 代表 形心位置 像素点 纹理 因子 边缘检测算法 射线 图像处理技术 频率 显微镜 轮廓 参数
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