一种基于余弦调制的双曝光法检测玻璃微形变的方法

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一种基于余弦调制的双曝光法检测玻璃微形变的方法
申请号:CN202510756279
申请日期:2025-06-08
公开号:CN120627940A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光学全息检测技术领域,具体涉及一种基于余弦调制的双曝光法检测玻璃微形变的方法。该方法通过分别记录玻璃变形前的光场和变形后的光场;对玻璃变形前的光场和变形后的光场通过同一参考光分别进行干涉,获取玻璃变形前对应的第一全息图,以及玻璃变形后对应的第二全息图;将所述第一全息图和所述第二全息图进行叠加再现,得到双曝光全息图;获取双曝光全息图的余弦函数条纹场;根据余弦函数条纹场采用位移灵敏度模型解算位移矢量,得到玻璃形变量。本发明通过双曝光法进行光学叠加变形生成余弦条纹场,能够消除物光场振幅干扰,实现条纹对比度提升,从而提高玻璃形变检测的信噪比。
技术关键词
全息图 微形变 条纹 玻璃 变量 泊松比 强度 信噪比 对比度 照明 表达式 因子 算法 包裹
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