基于光波元件分析仪的激光器芯片自适应测试装置和方法

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基于光波元件分析仪的激光器芯片自适应测试装置和方法
申请号:CN202510762102
申请日期:2025-06-09
公开号:CN120490779A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于光波元件分析仪的激光器芯片自适应测试装置和方法,属于光电测试技术领域,包括微波及总控模块,微波及总控模块与直流偏置器相连接,直流偏置器与激光器芯片相连接,激光器芯片与高速光接收机模块相连接,高速光接收机模块连接到微波及总控模块;高速光接收机模块包括光耦合器,光耦合器与激光器芯片相连接,光耦合器与光功率计和光放大器相连接,光功率计和光放大器均与反馈控制器相连接,反馈控制器连接微波及总控模块;光放大器与高速光电探测器相连接后通过电输出端连接到微波及总控模块。本发明实现了低功率激光器芯片的频响参数精确测试,适合各类激光器芯片在研发验证、生产检测等环节的频响参数测试需求。
技术关键词
光波元件分析仪 激光器芯片 光接收机模块 反馈控制器 高速光电探测器 微波 放大器输出功率 反馈控制单元 放大器工作 光功率 频响参数测试 控制光放大器 光电测试技术 光耦合器 测试方法
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