DDR测试信号检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种DDR测试信号检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质。该方法可以将不同DDR芯片的测试信号中的测试命令进行转换，得到统一格式的目标测试命令，进而根据目标时序参数在目标测试命令中确定起始测试命令和结束测试命令，根据起始测试命令和结束测试命令确定目标测量方式，进而根据目标测量方式测量时序参数测量值；使得在测量不同类型的DDR芯片的测试信号时，不需要切换不同的检测模块，而对不同DDR类型的命令进行转换以统一命令格式，以及确定对应的测量方式进行检测，可以统一不同DDR芯片的时序参数测量方法，简化时序参数的测量方案。