一种缺陷数据融合方法、装置、设备、存储介质以及一种缺陷检测方法

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一种缺陷数据融合方法、装置、设备、存储介质以及一种缺陷检测方法
申请号:CN202510773178
申请日期:2025-06-10
公开号:CN120688002A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种缺陷数据融合方法、装置、设备及存储介质,一种缺陷检测方法,方法包括:获取多个目标通道中每个目标通道的多个目标缺陷数据以及每个目标通道的光学特性;根据每个目标通道的光学特性从多个目标通道中确定至少一个特性匹配的融合通道对;在特性匹配的目标通道形成融合通道对的基础上,对融合通道对中分别属于不同目标通道的多个目标缺陷数据进行缺陷融合,获得融合通道对的融合缺陷数据,该融合缺陷数据是基于特性匹配的目标通道的目标缺陷数据进行融合得到,因此能够得到准确的缺陷数据,实现缺陷检测结果的统一,满足缺陷检测的准确性需求。
技术关键词
通道 数据融合方法 缺陷检测方法 计算机存储介质 坐标 数据融合装置 准确性需求 计算机设备 融合设备 存储计算机程序 基础 存储器 处理器 算法 指令 聚类 光源
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