基于XCP协议的脉冲测试方法、装置、电子设备及存储介质

本公开属于标定技术领域，提供了一种基于XCP协议的脉冲测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：在将用于脉冲测试的主调函数添加到工程应用程序的周期任务中，并将测试目标功率半导体器件的脉冲测试工程文件以及XCP协议标定变量数据文件集成到工程应用程序中之后，编译生成目标hex文件；连接工程应用程序和对应上位机，且将目标hex文件和XCP协议对应的A2L文件导入上位机；基于XCP协议，通过上位机中的标定软件以及目标hex文件和A2L文件，对各标定变量进行设置，得到设置结果，标定变量用于对目标功率半导体器件进行脉冲测试；工程应用程序根据设置结果触发脉冲信号，且通过脉冲信号控制目标功率半导体器件开启或关断。本公开降低了测试成本。