一种结合缺陷检测反馈的产品设计闭环优化方法及系统

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一种结合缺陷检测反馈的产品设计闭环优化方法及系统
申请号:CN202510794362
申请日期:2025-06-13
公开号:CN120706236A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种结合缺陷检测反馈的产品设计闭环优化方法,包括:数据收集:采集产品图像并标注实际缺陷,构建缺陷检测数据集;缺陷检测模型训练:训练第一深度学习模型得到缺陷检测模型;数据分析:使用缺陷检测模型并分析其检测结果,识别高频误检和漏检,并关联到导致问题的设计特征;辅助设计模型训练:根据分析结果,针对性标注易混淆的设计特征,构建辅助设计数据集,训练第二深度学习模型得到辅助设计模型;设计迭代:利用辅助设计模型或分析结果,通过设计软件修改或优化设计图纸中的易混淆特征。本发明通过建立闭环反馈,在设计阶段主动规避易引发检测错误的特征,从而提高检测精度,降低成本,缩短周期,提升产品质量。
技术关键词
设计特征 深度学习模型 图纸 纹理 检测模型训练方法 闭环 图像 数据收集模块 模型训练模块 数据分析模块 检测错误 标注工具 软件 工业相机 超参数 系列 机制 框架
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