摘要
一种双极电路芯片制备中的介质隔离方法,其特征在于:它包括S1、准备晶圆;S2、在晶圆硅片上形成第一氧化层;S3、制备第一槽体;S4、进步向下刻蚀第一槽体;S5、制备第二槽体;S6、制备第二氧化层;S7、在第二氧化层上淀积多晶硅层;8、对第二氧化层的上表面进行抛光,使其表面平坦化。本发明步骤简明,实施方便,优化并保障击穿电压提高的同时,漏电流和跨导不会发生大的退化,简化大线宽工艺条件下PN隔离结横向扩散的缺点。
技术关键词
槽体
氧化层
表面平坦化
硅片
芯片
晶圆
多晶硅
电路
漏电流
二氧化硅
抛光
介质
电压
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