一种双极电路芯片制备中的介质隔离方法

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一种双极电路芯片制备中的介质隔离方法
申请号:CN202510794750
申请日期:2025-06-14
公开号:CN120613306A
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
一种双极电路芯片制备中的介质隔离方法,其特征在于:它包括S1、准备晶圆;S2、在晶圆硅片上形成第一氧化层;S3、制备第一槽体;S4、进步向下刻蚀第一槽体;S5、制备第二槽体;S6、制备第二氧化层;S7、在第二氧化层上淀积多晶硅层;8、对第二氧化层的上表面进行抛光,使其表面平坦化。本发明步骤简明,实施方便,优化并保障击穿电压提高的同时,漏电流和跨导不会发生大的退化,简化大线宽工艺条件下PN隔离结横向扩散的缺点。
技术关键词
槽体 氧化层 表面平坦化 硅片 芯片 晶圆 多晶硅 电路 漏电流 二氧化硅 抛光 介质 电压
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