一种芯片测试用探针及探针卡

本申请涉及探针卡的技术领域，尤其是涉及一种芯片测试用探针及探针卡，包括固定段、连接段及探测段，所述固定段、所述连接段及所述探测段自上而下依次连接，所述连接段呈弓形设计，所述探测段用于与芯片上的凸点接触，以完成对芯片的测试。本申请具有提高测试结果的准确性的效果。