2.5D封装结构和2.5D封装结构的制备方法

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2.5D封装结构和2.5D封装结构的制备方法
申请号:CN202510796599
申请日期:2025-06-16
公开号:CN120319744B
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种2.5D封装结构和2.5D封装结构的制备方法,涉及芯片封装技术领域,该2.5D封装结构包括基底组合布线层、第一芯片、覆膜层、第二芯片和塑封层,基底组合布线层上设置有第一焊盘和第二焊盘,且第二焊盘的中部设置有对位凹槽;第一芯片贴合于第一焊盘;覆膜层至少覆盖在第一芯片的侧壁,且覆膜层部分覆盖在第二焊盘上,并设置有露出对位凹槽的开孔;第二芯片贴合于第二焊盘;塑封层设置在覆膜层上。相较于现有技术,本发明能够单独对第一芯片覆膜,同时冲孔形成露出对位凹槽的开孔,方便第二芯片对位贴装与第二焊盘,并使得第二芯片的第二导电凸起与对位凹槽接合实现电连接。从而避免同时对多个芯片覆膜带来负面问题。
技术关键词
封装结构 覆膜 基底 滤波器芯片 多层布线层 焊盘 电感结构 磁性材料 中介层 凹槽 介质 芯片封装技术 焊球 金属屏蔽层 导电层 外露 导线
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