一种集成电路引线框架的检测方法及系统

本申请提供了一种集成电路引线框架的检测方法及系统，旨在提高检测精度和效率。首先将待检引线框架定位于预设检测区域，获取框架正面和背面的图像数据。通过获取框架尺寸数据和框架单元尺寸数据，运用预设图像分割算法对正面和背面图像进行处理，准确确定各框架单元的图像数据及其定位信息。通过单元正面和背面图像定位数据的匹配组合，生成完整的框架单元图像数据，实现对每个框架单元的全面检测覆盖。随后采用预设的框架单元图像质检算法生成相应的单元表面质检评分，实现量化评估。提升了集成电路引线框架的检测精度和可靠性，通过自动化图像处理和质检评分系统，提高了检测效率，有效减少了传统人工检测中的主观性误差和检测盲区。