一种纳米结构的X射线散射光谱的快速获取方法及系统

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一种纳米结构的X射线散射光谱的快速获取方法及系统
申请号:CN202510826363
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120721029A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请属于X射线关键尺寸测量领域,本申请提供了一种纳米结构的X射线散射光谱的快速获取方法及系统,本申请通过格林算法改进的截面采样算法对各横截面进行采样,将各横截面的截面轮廓对应的面积积分转换为线积分,显著的减少了各横截面的采样点数量;通过高斯勒让德积分算法获取形貌模型对应的积分高度节点,并配合各横截面的截面形状因子来对形貌模型进行纵截面采样,进一步降低了计算整体形状因子所需的数据,从而能在保证采样精度的同时,实现对高深度比的复杂纳米结构的X射线散射光谱的快速获取。
技术关键词
纳米结构 因子 截面轮廓 积分算法 采样点 采样模块 关系 存储计算机程序 数据获取模块 切片 周期 存储器 坐标 光强 节点 处理器 电子设备 精度
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