一种功耗检测方法及芯片

本申请提供一种功耗检测方法及芯片，涉及芯片的技术领域。功耗检测方法，包括：针对芯片中的每一个功能模块：在预设时长内，对该功能模块中的每一个信号分别进行采样，得到每一个信号对应的翻转值；其中，所述翻转值表征信号翻转速度的大小；基于该功能模块中每一个信号对应的翻转值，以及预设的翻转值与功耗的转换系数，得到该功能模块对应的功耗；将所有功能模块对应的功耗值进行求和，并基于预先获取的功耗修正参数对所述求和得到的功耗进行修正，得到所述芯片的功耗。通过功耗修正参数来对所有功能模块对应的功耗值进行求和得到的功耗进行修正，从而使得最终得到的检测功耗更加贴合芯片的实际功耗，提高了检测功耗的准确性。