测试板寿命监测装置和方法

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测试板寿命监测装置和方法
申请号:CN202510848460
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120577673A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种测试板寿命监测装置和方法,该测试板寿命监测装置包括:数据存储模块、数据处理模块和监测模块;数据存储模块,用于存储测试板包括的至少一个易损器件中每个易损器件的累计损耗值及损耗阈值;数据处理模块,用于获取易损器件的损耗值增量,并通过易损器件的损耗值增量和累计损耗值的和,更新数据存储模块中该易损器件的累计损耗值;监测模块,用于根据数据存储模块中至少一个易损器件的累计损耗值和损耗阈值,对测试板进行寿命监测,并在寿命监测结果满足预设条件时发出报警信息。本申请提供的测试板寿命监测装置可以实现测试板寿命的自动化监测,提高芯片测试的效率和安全性。
技术关键词
易损器件 损耗 数据存储模块 测试板 寿命监测装置 识别码 数据处理模块 监测模块 寿命监测方法 数据采集模块 芯片测试设备 输出报警信息 界面 参数
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