一种基于星载高光谱均质像元的在轨辐射精度验证方法和装置

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正文
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一种基于星载高光谱均质像元的在轨辐射精度验证方法和装置
申请号:CN202510869036
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120538670A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于星载高光谱均质像元的在轨辐射精度验证方法和装置,包括:对获取的星载高光谱地表反射率数据中的每个像元的空间均匀性进行评价,得到种子点像元;对种子点像元进行空间扩展,得到均质像元的主体区域;对主体区域的星载高光谱地表反射率数据进行时间均匀性评价,得到均质像元区域;构建均质像元区域的数据库;根据数据库获取待验证卫星在均质像元区域的复原辐射亮度值和入瞳辐射亮度参考值;并进行光谱一致性评价,得到验证结果。本发明在时间与空间的约束下,筛选了星载高光谱均质像元区域构建在轨精度验证场地,不再局限于传统辐射校正场地区域,利用大气辐射传输实现对于入瞳辐射亮度数据参考值的获取,以完成在轨辐射精度验证。
技术关键词
地表反射率 亮度 精度验证方法 大气特征 种子 空间扩展模块 二值化图像 精度验证装置 数据 气溶胶光学厚度 辐射传输模型 概率密度函数 地理位置信息 误差 分辨率 载荷 输出入 计算机 可读存储介质
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