一种测试绑定多路输出驱动芯片的电路结构及方法

本发明公开了一种测试绑定多路输出驱动芯片的电路结构及方法，包括：主控制器，以及分别与主控制器连接的驱动电压检测电路和电压转换电路；外部电源电压经过电压转换电路产生多路输出驱动芯片所需的驱动电源电压，驱动电压检测电路连接多路输出驱动芯片的每一路输出；主控制器控制多路输出驱动芯片各驱动输出管脚的输出状态，并采样驱动电压检测电路在电压采样节点的电压值，得到多路输出驱动芯片各驱动输出管脚的异常检测结果。本发明无需使用模拟开关芯片，也无需采用灌电流方式，电路结构简单可靠，成本低，同时能够提高检测效率。