一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请公开了一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域，包括以存储块为缺陷检测单位，对存储块中每个比特位的读写错误情况进行统计，即生成错误比特位分布图，最后通过分析错误比特位分布图表征的存储块缺陷范围，确定待测存储设备的质量检测结果，即便是缺陷不严重的缺陷存储块也能被检测到，解决了传统物理检测只能发现待测存储设备的严重缺陷技术问题，提高了对存储设备质量检测结果的准确性。