集成电路芯片电磁干扰智能抑制与屏蔽方法及系统

本发明提供集成电路芯片电磁干扰智能抑制与屏蔽方法及系统，涉及集成电路技术领域，包括通过采集芯片电磁干扰数据并进行时频域分解和特征提取，得到初始电磁干扰特征向量；基于状态空间映射和动作空间搜索计算电磁干扰威胁指数，进而评估电磁干扰态势并确定最小屏蔽强度；采用梯度引导的遗传算法对电磁屏蔽结构进行优化设计，得到最优屏蔽结构参数；根据该参数调整实时电磁干扰数据并计算抑制率，结合抑制率优化遗传算法进行迭代设计。本发明实现了电磁干扰的智能评估和动态抑制，提高了屏蔽结构设计的精确性和适应性。