一种集成电路芯片的可靠性测试评估方法及系统

本发明提供一种集成电路芯片的可靠性测试评估方法及系统，涉及集成电路芯片测试技术领域，该方法包括定义测试目标与测试指标；构建多层次测试环境；在构建的多层次测试环境中进行动态应力测试；基于历史测试数据和监控数据，利用机器学习算法建立预测模型，以预测集成电路芯片在不同条件下的性能变化和潜在故障；利用建立的预测模型对测试过程中出现的故障进行智能诊断，并定位故障源；通过在线远程监控平台对测试过程进行持续监控，并根据监控数据和预测模型的预测结果，动态调整测试参数和测试策略。本发明全面准确评估集成电路芯片可靠性，通过多层次测试环境、机器学习预测及智能诊断，提升了测试效率与故障预防能力。