一种自动芯片测试装置

本申请涉及芯片测试领域，尤其是涉及一种自动芯片测试装置。其包括测试座用于固定待测芯片，承载装置支撑和容纳各功能模块，承载装置包含可调节高度的福马轮、可调整重心分布的配重块、提供压力和位移的电动执行装置、移动和承载芯片的电动托盘装置、检测芯片电性能的检测电路装置、控制系统，还有激光位置检测模块、压力传感器等；测试座有特定结构，各装置也有具体组成，还设有光栅保护模块、三色警示灯、两级冷却架构等。本申请达到了精确控制芯片测试过程中的压力和位置，保障测试稳定性和准确性，具备良好的冷却和安全防护功能，能生成芯片性能评估报告的技术效果。