摘要
本发明涉及芯片封装领域,尤其是一种提高微发光二极管光效的封装方法,通过在微发光二极管封装过程中引入氧化等离子反应,对常规微发光二极管封装表面已经经过激光烧蚀对GaN进行减薄和部分去除后残留的Ga单质进行氧化,从而在GaN表面形成岛状的Ga203透明膜层,然后在Ga203表面进一步制作折射率小于GaN,且折射率逐步递减的过渡膜层,如氧化铪HfO,氧化铝Al2O3,氧化锌ZnO,氮化铝AlN,氮化硅SiN等,通过降低微发光二极管表面膜层的透光率,提高微发光二极管的出光效率。
技术关键词
微发光二极管
封装方法
透明膜
激光烧蚀
透光率
发光二极管封装
氧化铝
氮化硅
氧化锌
芯片封装
亚克力
载板
镀膜
电极
强度
系统为您推荐了相关专利信息
图像融合技术
高分辨率成像
透明材料折射率
损伤特征
融合算法
电子标签封装结构
RFID电子标签
金属外壳
密封垫片
天线