半导体结构的制备方法及半导体结构

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半导体结构的制备方法及半导体结构
申请号:CN202510914892
申请日期:2025-07-03
公开号:CN120730762A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种半导体结构的制备方法及半导体结构。方法包括:提供衬底,并于衬底上形成外延层;形成初始介质层,初始介质层内具有贯穿至外延层顶面的第一连接槽;形成第一连接层及位于第一连接层内的第一隔离槽,第一连接层覆盖初始介质层的部分顶面并填充第一连接槽;去除部分初始介质层以形成第一介质层,并形成第二介质层及贯穿第一介质层及第二介质层的目标接触孔,目标接触孔的正投影位于第一隔离槽内,第二介质层内还具有暴露出第一连接层部分顶面的第二连接槽;形成第二连接层及第二隔离槽,第二连接层覆盖第二介质层的部分顶面并填充第二连接槽,第二隔离槽至少位于第一连接槽及第二连接槽之间。上述方法中元胞布置灵活,提升芯片效率。
技术关键词
半导体结构 介质 接触孔 金属材料 外延 栅极 栅氧化层 衬底 分支 多边形 芯片
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