考虑不确定性的电子元器件加速试验设计优化方法

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考虑不确定性的电子元器件加速试验设计优化方法
申请号:CN202510917433
申请日期:2025-07-03
公开号:CN120805686A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
考虑不确定性的电子元器件加速试验设计优化方法,属于电子元器件可靠性分析技术领域。为了解决现有加速试验设计中存在的应力条件选择不合理、退化建模偏差大等问题。本发明以试验变量为输入、电子元器件寿命为输出构建基于贝叶斯神经网络的预测架构,利用变分推断方法对模型参数后验分布进行近似推理,从而搭建贝叶斯神经网络,在贝叶斯神经网络模型的变分推断框架中引入可微弱物理约束项,实现模型表达能力与物理可信度的协同优化;基于得到的贝叶斯神经网络得到奖励函数,采用强化学习策略函数引导候选试验组合生成,得到候选试验组合全集;基于贪婪式递增搜索机制,在组合数量空间中探索最优子集规模,得到最优组合数量及最优试验组合变量。
技术关键词
贝叶斯神经网络 设计优化方法 电子元器件 强化学习策略 变量 失效物理 模型预测值 推断方法 可靠性分析技术 寿命 资源消耗量 标签 变形方法 样本 参数 框架 机制 应力
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