一种FLASH地址线全回路检测方法

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一种FLASH地址线全回路检测方法
申请号:CN202510917875
申请日期:2025-07-03
公开号:CN120853654A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种FLASH地址线全回路检测方法,主要用于嵌入式系统FLASH调试、测试,包含以下步骤:步骤一、检测地址线是否为常高故障;步骤二、检测地址线是否为常低故障;步骤三、逐条检测地址线,并识别是否为短路故障。本发明对地址线进行逐条检测,并进行故障识别与定位。本发明操作简单,通用性强,便于使用,能避免由于地址线异常带来的数据烧写与读取异常等问题,保障FLASH正常工作,具有很大的推广应用空间。
技术关键词
回路检测方法 存储单元 典型 计算机存储介质 存储计算机程序 计算机程序产品 数据 处理器 识别短路 嵌入式系统 存储器 电子设备 可读存储介质 芯片 指令
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