一种集成封装芯片引脚检测装置

一种集成封装芯片引脚检测装置，涉及芯片封装与测试技术，装置包括：沿一倾斜直线间隔且固定设置的上轨道和下轨道；用于在上轨道和下轨道之间衔接且转动设置的摆动轨道，其转动轴线位于摆动轨道下方并平行于摆动轨道宽度方向；安装于摆动轨道并随同转动的引脚检测框，其上贯通形成有引脚通过槽，用于检测芯片引脚弯曲状态正常或异常；安装于摆动轨道下方并用于驱动摆动轨道转动的驱动机构；设于上轨道下端处并与摆动轨道上端接触配合的夹持组件。本装置实现自动化对芯片引脚异常弯曲检测，并有效对检测异常的缺陷芯片进行筛除。