存储器测试系统及测试系统管理方法

本公开公开了一种存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括多个存储器接口、多个桥接芯片、通用串行总线集线控制芯片以及多个负载开关。通用串行总线集线控制芯片包括接收模块、多个通用输入输出端口引脚及处理器，其中接收模块用于接收主机的测试指令并传输至处理器，处理器根据测试指令产生预设信号并输出至对应的通用输入输出端口引脚。每个负载开关的一端与对应的桥接芯片电连接，另一端与对应的通用输入输出端口引脚电连接，用于接收预设信号。该技术方案通过预设信号的状态控制实现对桥接芯片供电的精确管理，无需在不同电路板之间移动设备，提高测试效率并简化操作流程。