流动纳米颗粒自监督图像去噪与跟踪分析方法

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流动纳米颗粒自监督图像去噪与跟踪分析方法
申请号:CN202510921379
申请日期:2025-07-04
公开号:CN120894249A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及流动纳米颗粒自监督图像去噪与跟踪分析方法,包括:从流动纳米颗粒荧光光谱成像视频中随机选取三维补丁;三维补丁输入至训练后的流动纳米颗粒自监督图像去噪模型,实现流动纳米颗粒自监督图像去噪;包括:三维补丁的中心像素处理后输入动态空间盲点卷积神经网络,从三个角度构造中心掩膜结构;三维补丁的其余像素拼接后输入时空融合卷积神经网络整合时空信息;将切片旋转后按原角度拼接,再与剩余像素组合,经过特征融合后获取单帧特征图;通过优化单帧特征图与输入补丁的中心帧的损失实现流动纳米颗粒自监督图像去噪;获取流动状态下纳米颗粒的粒径,实现跟踪分析。本发明能够在难以获取高质量纳米颗粒干净数据时实现数据的原位去噪。
技术关键词
跟踪分析方法 纳米颗粒 补丁 掩膜结构 图像去噪模型 融合卷积神经网络 像素 输出特征 光谱成像 切片 注意力 坐标系 解码结构 上采样 粒子 编码结构 轨迹 分支
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