PCIE功耗测试装置

本申请提供了一种PCIE功耗测试装置，涉及功耗测试领域，其能够打破硬件功耗数据与软件系统日志之间的壁垒，创新性地利用操作系统内核事件追踪系统作为统一的数据融合平台。通过将外部硬件实时采集的功耗采样点作为自定义事件，实时注入到内核事件追踪会话中，使其与系统自身捕获的内核状态变更事件在同一高精度时间戳下共存，从而生成一份时间上完美对齐的统一追踪事件流。在此基础上，进一步从海量的追踪数据中自动识别PCIE异常模式。通过深度学习模型，先对功耗序列的局部时序特征进行编码，再进一步捕捉其全时域的模式演变规律，最终实现对PCIE链路异常状态的精确、自动化判定，进而有助于提升了功耗问题的诊断效率与准确性。