一种基于闭环分数阶PID控制的L1正则化涡流缺陷成像方法

本申请提出一种基于闭环分数阶PID控制的L1正则化涡流缺陷成像方法，涉及电磁涡流检测领域，其中，该方法包括：通过阵列涡流传感器对采集到的涡流数据，基于闭环分数阶PID控制的L1正则化涡流缺陷成像方法实现缺陷成像，在理论上获取金属材料损伤状态下的缺陷位置信息，并对缺陷进行定量化评估。本申请的成像方法经多次迭代优化后的缺陷空间分布与实测数据高度吻合，能有效定位并评估金属构件在损伤状态下的缺陷特征，其非接触式检测特性消除了对机械扫描装置的依赖，便于实现。