一种芯片测试系统、方法和电子设备

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种芯片测试系统、方法和电子设备，所述方法包括：测试信号源模块，用于提供时钟信号和数据信号；多个区块，每个所述区块中包括多个串行连接的目标模块，所述目标模块按照串行连接的顺序对所述时钟信号和数据信号进行传输，单个区块中由片上差异和信号串扰引起的时钟偏斜在时序裕量所允许的范围之内；各所述区块的起始模块的时钟路径与所述测试信号源模块直接连接。本公开实施例可提高芯片测试的稳定性和可靠性。