缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述缺陷检测方法包括：从目标对象的目标图像中获取待确定的目标缺陷；在从记忆库模型中查找到与所述目标缺陷匹配的参考缺陷且所述参考缺陷符合预设条件的情况下，确定所述目标对象存在所述目标缺陷。本申请实施例中的缺陷检测方法，在从目标对象的目标图像中获取待确定的目标缺陷后，可以根据记忆库模型中与目标缺陷匹配的参考缺陷确定目标缺陷是否为误检，相比于传统的缺陷检测方式，可以在保证目标对象的缺陷检测精度的同时，减少缺陷的误检。