一种电子元件性能测试系统

本发明公开了一种电子元件性能测试系统，具体涉及电子元件性能测试领域，包括路径建构模块、参照提炼模块、语义校验模块、偏差建模模块、闭环归档模块，路径建构模块通过以当前电子元件性能测试操作中的控制、响应与观测三类行为数据为基础，构建具有时间一致性与语义关联性的跨层路径组合结构，作为执行路径一致性判断与异常路径定位流程的结构化依据；参照提炼模块通过将路径组合结构中每条路径转换为语义因子集合并压缩为特征向量，构建结构化参照特征集合；通过构建基于控制、响应与观测三类行为语义映射的跨层路径组合结构，并结合多级偏差判定与异常行为重现机制，实现对跨层测试篡改行为的准确识别与风险归档。