摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体公开了一种基于光照感知机制的曝光校正方法与系统,方法包括:获得非均匀曝光图像;生成欠曝光区域、正常曝光区域以及过曝光区域的掩码;非均匀曝光图像通过卷积操作,提取得到初始特征图,所述初始特征图依次通过多次下采样和上采样,得到尺度不同的特征图,然后通过卷积操作得到处理后的特征图,将处理后的特征图与非均匀曝光图像进行融合,得到曝光均匀的图像;对初始特征图和尺度不同的特征图,分别利用掩码进行局部特征提取和全局曝光校正。本发明针对不同区域采取不同的方式进行处理,并强化不同区域之间的感知与信息交互,能够改善不均匀曝光图像的质量,最终生成一幅曝光均匀的图像。
技术关键词
曝光校正方法
局部特征提取
注意力
光照
图像获取模块
机制
图像校正
矩阵
像素点
前馈神经网络
全局平均池化
摘要
图像处理技术
校正系统
聚类
输出特征
通道
系统为您推荐了相关专利信息
刀具磨损状态
在线监测方法
深度学习网络
切削力
阶段
多步预测方法
历史运行数据
局部注意力机制
编码器
门控循环单元网络
预警装置
移动设备
控制终端
监控大棚
数据发送模块
知识点图谱
学习特征数据
数据分析方法
注意力
个性化学习路径